Программа конференции. (PDF -209k)
Вторник, 4 июля, 2006
Секция № 1 Процессы роста из расплава
Председатели: Простомолотов А.И., Меженный М.В.
Актовый зал Главного корпуса ИФ СО РАН
Секция № 3 Структуры кремний-на-изоляторе
Председатель: Попов В.П.
Аудитория 2-03 Главного корпуса ИФ СО РАН
Секция № 4 Дефекты и примеси, ионная имплантация, ядерное легирование
Председатели: Соболев Н.А., Борун А.Ф., Патрин Г.С.
Актовый зал Технологического корпуса ИФ СО РАН
| Пленарные доклады. Актовый зал главного корпуса |
9:00—9:30 | Церемония открытия |
9:30—10:10 | Тенденции развития современной кремниевой наноэлектроники Неизвестный И.Г., Асеев А.Л. |
10:20—10:50 | Перерыв на кофе |
10:50—11:30 | Солнечная энергетика на основе мультикремния Непомнящих А.И. |
11:40—14:00 | ОБЕД |
| Работа по секциям |
| Секция № 1 Процессы роста из расплава | Секция № 3 Структуры кремний-на-изоляторе | Секция № 4 Дефекты и примеси, ионная имплантация, ядерное легирование |
14:00—14:15 | Математическое моделирование и экспериментальная верификация распределений микродефектов и напряженного состояния в бездислокационных монокристаллах и пластинах кремния Простомолотов А.И., Верезуб Н.А. , Меженный М.В., Мильвидский М.Г., Резник В.Я. | Структуры полупроводник-на-изоляторе - основа посткремниевой электроники В. П. Попов, И. Е. Тысченко | Рекомбинация вакансий и междоузельных атомов в si в протяженной форме в плоскости {113} Л.И. Федина |
14:15—14:30 | Особенности трехмерного теплопереноса и дефектообразования при асимметричной прецессии монокристаллов кремния большого диаметра, выращиваемых по чохральскому Верезуб Н.А., Простомолотов А.И. | Свойства структур КНИ с нанометровыми слоями кремния О.В. Наумова, Т.А. Гаврилова, Е.В. Вохмина, Н.В. Дудченко, Е.В. Спесивцев, Д.В. Николаев, В.П. Попов | Инженерия дефектов в технологии светоизлучающих структур на основе монокристаллического кремния Н.А. Соболев |
14:30—14:45 | Влияние условий роста на морфологию поверхности монокристаллов БЗП кремния. Фрицлер К.Б., Труханов Е.М., Калинин В.В., Смирнов П.Л., Колесников А.В., Василенко А.П. | Оптические свойства ионно-имплантированных структур кремний-на-изоляторе И. Е. Тысченко, В. П. Попов | Ядерное легирование кремния: состояние и перспективы Стук А.А., Колин Н.Г. |
14:45—15:00 | Рост мультикристаллического кремния по методу стокбаргера-бриджмена. А.И. Непомнящих, Б.А. Красин, А.Е. Кох, Н.В. Немчинова, С.С. Бельский | КНИ-нанотранзисторы с двумя независимо управляемыми затворами О.В. Наумова, М.А. Ильницкий, Л.Н. Сафронов, В.П. Попов | Динамика перераспределения атомов кислорода при восстановлении нарушенных ионной бомбардировкой слоев кремния В.И. Ободников, Е.Г. Тишковский, Л.И. Федина, А.Г. Черков |
15:00—15:15 | Влияние режимов роста и отжига на параметры p-Si (Cz) Ленченко В.М., Шагаров Б.А., Юркина Т.И. | Структура, электрические и оптические свойства слоев кремния на сапфире, выращенных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии С.А. Денисов, Л.В. Красильникова*, Е.В. Коротков, Д.А. Павлов, С.П. Светлов, Е.А. Питиримова, С.В. Тихов, В.А. Трушин, В.Ю. Чалков, В.Г. Шенгуров | Зарядовая модель рекомбинационных свойств кластеров дефектов В.М. Ленченко, Ю.Ю. Логинов |
15:15—15:30 | Кислородсодержащие дефекты в бездислокационных пластинах кремния, образующиеся в процессе многоступенчатой термообработки, включающей быстрый термический отжиг Меженный М.В., Мильвидский М.Г., Резник В.Я. | Влияние тонкого слоя SiO2 на взаимодействие Fe с поверхностью Si(001) В.В. Балашев, В.В. Коробцов, Т.А. Писаренко, А.А. Маткин | Влияние ионов диспрозия на физические свойства кристалла моносилицида железа Г.С. Патрин, В.В. Белецкий, Н.В. Волков, Д.А. Великанов, О.В. Закиева |
15:30—15:45 | Неоднородность и дефекты структуры в монокристаллах кремний-германий, выращенных по Чохральскому Л.М. Сорокин, Т.С. Аргунова, Н.В. Абросимов, М.Ю. Гуткин, А.Г. Забродский, А.С. Трегубова, J.W. Jung, J.H. Je | — | — |
15:45—16:00 | Перерыв на кофе |
16:00—19:00 | Постерная сессия. Холл главного корпуса ИФ СО РАН |
Среда, 5 июля, 2006
Секция № 2 Эпитаксиальные структуры, низкоразмерные системы на основе кремния
Председатели: Пчеляков О.П., Саранин А.А., Асеев А.Л.
Актовый зал Главного корпуса ИФ СО РАН
Секция № 5, 6 Микрокристаллические, аморфные и пористые слои. Новые приборные структуры на основе объемного материала и наноструктур
Председатели: Исхаков Р.С., Юрченко В.И.
Актовый зал Технологического корпуса ИФ СО РАН
Секция № 7 Методы и аппаратура для роста и исследования кремния
Председатели: Владимиров В.М., Кобелева С.П., Терехин Н.А., Шагаров Б.А., Калинин В.В.
Актовый зал Президиума КНЦ СО РАН
| Пленарные доклады. Актовый зал главного корпуса |
9:00—9:40 | Современное состояние технологии поликремния Кузнецов Ф.А., Елютин А.В., Ревенко Ю.А. |
9:50—10:20 | Перерыв на кофе |
10:20—11:00 | Итоги физического и численного моделирования гидродинамики и теплообмена в методе Чохральского Бердников В.С. |
11:00—11:20 | Перерыв на кофе |
| Работа по секциям |
| Секция № 2 Эпитаксиальные структуры, низкоразмерные системы на основе кремния | Секция № 5, 6 Микрокристаллические, аморфные и пористые слои. Новые приборные структуры на основе объемного материала и наноструктур | Секция № 7 Методы и аппаратура для роста и исследования кремния |
11:20—11:35 | Динамические свойства нанокластеров IN/SI на поверхности кремния Саранин А.А., Зотов А.В. | Нанокристаллическая фаза в феноменологических моделях аморфного кремния В.В. Болотов, А.В. Орлов | Автоматизация измерений удельного электросопротивления пластин кремния Владимиров В.М., Гринин Э.Ф., Сергий М. Е., Шепов В.Н. |
11:35—11:50 | Молекулярно-лучевая эпитаксия наногетероструктур на основе кремния и германия для применения в фотовольтаике О.П. Пчеляков, А.И. Никифоров, Б.З. Ольшанский, С.А. Тийс, К.Н. Романюк | Влияние NO2 на комбинационное рассеяние света и вольт-амперные характеристики слоев мезопористого кремния В.В. Болотов, И.В. Пономарева , Ю.А. Стенькин, В.Е. Канн | СВЧ измерения распределения времени жизни ннз по диаметру и длине слитка кремния Бородовский П.А., Булдыгин А.Ф., Токарев А.С. |
11:50—12:05 | Кремниевые наноструктуры с квантовыми точками А.В. Двуреченский, А.И. Якимов, Н.П. Степина, А.Ф. Зиновьева, А.В. Ненашев, Ж.В. Смагина, В.А. Армбристер В.В. Кириенко, А.К. Гутаковский, В.Г. Кеслер, А.А. Блошкин, Г.Ю. Михалев | Синтез и свойства композитов магнитный металл — пористый кремний Р.С. Исхаков, Л.А. Чеканова, В.А. Юзова, С.В. Комогорцев, О.В. Семенова | Анализ способов оценки объемного времени жизни неравновесных носителей заряда в слитках монокристаллического кремния по данным свч метода С.П. Кобелева, С.Ю. Юрчук |
12:05—12:20 | Атомные процессы на поверхности кремния при сублимации и адсорбции золота Косолобов С.С., Родякина Е.Е., Латышев А.В., Асеев А.Л. | Структуры на основе пористого кремния и возможное их применение в микроэлектронике Р.С. Исхаков, В.А. Юзова, Л.А. Чеканова, А.Я. Корец, С.В. Комогорцев, А.П. Пузырь, О.В. Семенова | Метрологические характеристики автоматизированного комплекса ВИК-УЭСА для анализа карт распределения удельного электросопротивления пластин кремния И.М. Анфимов, В.С. Бердников*, К.В. Закутайлов, С.П. Кобелева, Ю.М. Пшеничников*, А.Н. Чиякин |
12:20—12:35 | Выращивание гетероструктур GexSi1-x/Si(100) c большим содержанием Ge (x>0.35) методом молекулярно-лучевой эпитаксии Дерябин А.С., Болховитянов Ю.Б., Соколов Л.В., Гутаковский А.К., Колесников А.В. | Флэш память на основе диэлектриков с высокой диэлектрической проницаемостью В.А. Гриценко, К.А. Насыров, С.С. Шаймеев | Спектральные эллипсометрические измерения тонких пленок и многослойных структур на основе кремния В.А. Швец, С.В. Рыхлицкий, Е.В. Спесивцев, А.Г. Борисов, В.Ю. Прокопьев, С.А. Дулин |
12:35—12:50 | Образование и отжиг дефектов в светоизлучающих нанокристаллах кремния Г.А. Качурин, С.Г. Черкова, Д.В. Марин, В.А. Володин, А.К. Гутаковский, А.Г. Черков, M. Deutschmann* | Динамические характеристики интегральных полупроводниковых тензопреобразователей Вершинский А. В., Левицкий А. А., Наберухин А. В | ИК-спектроскопия состояния углерода и бора в сильнолегированных эпитаксиальных слоях SIGE:C(B) В.Д. Ахметов, Х. Рихтер |
12:50—14:00 | ОБЕД |
16:00—19:00 | ЭКСКУРСИЯ |
Четверг, 6 июля, 2006
Секция № 2 Эпитаксиальные структуры, низкоразмерные системы на основе кремния
Председатели: Пчеляков О.П., Саранин А.А., Асеев А.Л.
Актовый зал Главного корпуса ИФ СО РАН
Секция № 5, 6 Микрокристаллические, аморфные и пористые слои. Новые приборные структуры на основе объемного материала и наноструктур
Председатели: Исхаков Р.С., Юрченко В.И.
Актовый зал Технологического корпуса ИФ СО РАН
Секция № 7 Методы и аппаратура для роста и исследования кремния
Председатели: Владимиров В.М., Кобелева С.П., Терехин Н.А., Шагаров Б.А., Калинин В.В.
Актовый зал Президиума КНЦ СО РАН
Секция № 8 Солнечный кремний, исходное сырье, очистка, кристаллизация, фэпы
Председатели: Непомнящих А. И., Бердников В.С.
Аудитория 2-03 Главного корпуса ИФ СО РАН
| Работа по секциям |
| Секция № 2 Эпитаксиальные структуры, низкоразмерные системы на основе кремния | Секция № 5, 6 Микрокристаллические, аморфные и пористые слои. Новые приборные структуры на основе объемного материала и наноструктур | Секция № 7 Методы и аппаратура для роста и исследования кремния | Секция № 8 Солнечный кремний, исходное сырье, очистка, кристаллизация, фэпы |
9:30—9:45 | Влияние атомов бора на термическую нитридизацию поверхности Si(111) Маркидонов Е.В., Балашев В.В., Базарсад Х., Коробцов В.В | Использования кремния для изготовления автодинных устройств КВЧ диапазона В.И. Юрченко, С.Д. Воторопин | Опыт создания крупногабаритных блочных конструкций для производства поликристаллического кремния с использованием 3-х мерной графики при проектировании Абловацкий А.Н., Терехин Н.А., Шагаров Б.А | Электронно-пучковая плазма для кремниевых технологий Р.Г. Шарафутдинов, О.И. Семенова, В.Г. Щукин |
9:45—10:00 | Окисление кремния и германия на воздухе Антонова Л.Т., Денисов В.М., Михлин Ю.Л. | Особенности электрофизических свойств мдп-структур со слоями нанокристаллического кремния В.А. Викулов, В.В. Коробцов, А.А. Димитриев | Система документирования процесса выращивания монокристалла кремния на ростовой установке "КЕДР" Гордеев В.И., Елисеев Ю.В. | Значение исследований параметров генерации и релаксации фотопроводимости в характеристике мультикристаллического кремния для солнечной энерегетики Б.А. Красин, А.И. Непомнящих, Ю.С. Мухачев, Р.В. Пресняков, В.Л. Усов, С.М. Рожкова |
10:00—10:15 | Исследование интерфейса мультислоев Fe/Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов А.С. Паршин, Г.А. Александрова, С.Н. Варнаков, С.А. Кущенков, С.Г. Овчинников | Магнитные и резонансные свойства многослойных магнитных пленок с немагнитной кремниевой прослойкой Г.С. Патрин, В.О. Васьковский, Д.А. Великанов, Н.В. Волков, А.В. Свалов, М.А. Щеглова, Е.В. Еремин | Проблемные вопросы обеспечения качества и надежности комплектующих изделий ростовых установок для выращивания монокристаллов кремния по методу чохральского Гордеев В.И., Панов П.И. | Моделирование режимов барботажа при рафинировании металлургического кремния Бердников В.С., Винокуров В.А., Непомнящих А.И. |
10:15—10:30 | Поверхностные процессы при молекулярно-лучевой эпитаксии нитрида галлия на кремниевых подложках И.А. Бобровникова, И.В. Ивонин, В.А. Новиков | Оптические и механические элементы из кремния В.И. Юрченко | Реализация серверного программного обеспечения для получения кремниевых плёнок А.В. Шайдуров, С.Г. Овчинников, Н.Н. Косырев, С.Н. Варнаков | Процессы и аппараты газофазного получения поликремния разложением силана и трихлорсилана при Т > Tпл В.Н. Демин |
10:30—10:45 | Получение пленок α-Si из смеси силана с силилбораном Ф.А. Мукашев, Б.М. Кабланбеков | Многослойные магнитные наноструктуры на основе кремния полученные термическим испарением в сверхвысоком вакууме С.Н. Варнаков, J. Bartolome, С.Г. Овчинников, А.С. Паршин, С.В. Комогорцев, Г.В. Бондаренко | Новейшее оборудование компании VEECO для исследования полупроводниковых материалов О.И. Киселёва | Оптимизация реактора для получения поликристаллического кремния хлоридным способом Д.С. Бровин, С.Н. Колгатин, А.А. Ловцюс |
10:45—11:00 | — | — | Электроэрозионный способ формирования пористой полупроводниковой среды А.Л. Журавлёв, К.В. Лосев, Г.Н. Шелованова | Оптимизация состава исходной шихты при выращивании монокристаллов кремния для ФЭП Т.В. Критская |
11:00—11:15 | — | — | — | Анализ инновационных процессов организации производства кремния солнечного качества в Сибири В.И. Юрченко |
11:15—11:30 | — | — | — | Особенности цикла получения кремния «СОЛНЕЧНОГО» сорта из высокочистого рафинированного кремния И.А. Елисеев, А.И. Непомнящих |
11:35—11:45 | — | — | — | Новая конструкция кремниевых солнечных элементов для работы с концентраторами солнечного излучения Антощенко В.С., Лаврищев О.А., Мигунова А.А. |
11:30—12:00 | Перерыв на кофе |
12:00—14:00 | ЭКСКУРСИЯ по ИФ СО РАН |
14:00—15:00 | ОБЕД |
15:00—19:00 | Постерная сессия. Холл главного корпуса ИФ СО РАН |
19:00 | БАНКЕТ |
Пятница, 7 июля, 2006
10:00—19:00
Экскурсия на Красноярское море
Вторник, 4 июля, 2006
16:00—19:00
Постерная сессия. Секции NN 1, 3, 4
Холл Главного корпуса ИФ СО РАН
П1 | Влияние кислородсодержащих преципитатов на прочностные характеристики монокристаллического кремния Меженный М.В., Мильвидский М.Г., Резник В.Я. |
П2 | Формирование примесных преципитатов в кремнии Логинов Ю.Ю. |
П3 | Уравнения генерации и накопления вакансий в кристалле, выращиваемом из расплава Ленченко В.М. |
П4 | Расчеты влияния условий роста на коэффициент распределения примесных атомов между расплавом и растущим кристаллом Ленченко В.М. |
П5 | Влияние режимов конвективного теплообмена на форму фронта кристаллизации в методе Чохральского Бердников в.с., Винокуров В.А., Винокуров В.В., Гапонов В.А |
П6 | Конвективный теплообмен в методе Чохральского в режимах дифференциального вращения кристалла и тигля Бердников в.с., Винокуров В.А., Гапонов В.А. |
П7 | Влияние конвекционных потоков при БЭП на степень очистки и распределение примесей в монокристаллах кремния Червоный И.Ф., Егоров С.Г., Воляр Р.Н. |
П8 | Влияние условий выращивания и примесного состава на величину времени жизни н.н.з. в монокристаллах кремния Червоный И.Ф., Воляр Р.Н, Егоров С.Г. |
П9 | Нестабильность структурно-чувствительных свойств приборных слоев структур "кремний на сапфире" при низкотемпературных внешних воздействиях А.В. Скупов, В. Д. Скупов |
П10 | Дислокационная люминесценция в si:er диодах, приготовленных с помощью газофазного осаждения поликристаллических слоев кремния, легированных бором и фосфором Н.А. Соболев, А.М. Емельянов, В.В. Забродский, Н.В. Забродская, В.Л. Суханов |
П11 | Особенности технологии ядерного легирования кремниевых пластин, используемых в производстве мощных тиристоров Стук А.А., Свистельникова Т.П., Локтаев Ю.М., Сурма А.М., Черников А.А. |
П12 | Напряжения в решетке Si вблизи преципитатов β- FeSi2 А.Ф. Борун, Е.А. Выговская, Ю.Н. Пархоменко, Е.Г. Полякова, О.В.Торопова. |
П13 | Легирование кремния редкоземельными элементами при высокотемпературной обработке Н.В. Латухина, В.М. Лебедев |
П14 | Особенности поведения электронейтральных примесей металлов iia и iva групп в жидких и твердых растворах на основе кремния Прокофьева В.К., Рыгалин Б.Н., Соколов Е.Б. |
П15 | Особенности дефектообразования в условиях генерации ударных волн каскадами атомных смещений при ионной имплантации А.В. Скупов, В.Д. Скупов |
П16 | Пространственная неоднородность распределения р- и n-областей в облученном кремнии Смагулова С.А., Антонова И.В., Неустроев Е.П. |
П17 | Оптимизация тепловых узлов для выращивания кристаллов кремния по методам Чохральского и Бриджмена Калаев В.В., Кулиев А.Т., Дурнев Н.В., Макаров Ю.Н. |
Четверг, 6 июля, 2006
15:00—19:00
Постерная сессия. Секции NN 2, 5, 6, 7, 8
Холл Главного корпуса ИФ СО РАН
П1 | Снятие напряжений несоответствия в эпитаксиальных пленках GeSi, выращенных на вицинальных подложках Si (001) А.В. Колесников, А.Ю. Красотин, Е.М. Труханов, А.П. Василенко, А.С. Дерябин, А.С. Ильин |
П2 | Металлические наногетероструктуры на кремнии Н.И. Плюснин, В.М. Ильященко, С.А. Китань, С.В. Крылов |
П3 | Возможности метода полюсных фигур для описания кристаллического строения эпитаксиальных пленок на кремнии Зимин С.П., Богоявленская Е.А., Наумов В.В. |
П4 | Метрологические аспекты измерения параметров кремния и фэп А.В. Юрченко, В.И. Юрченко |
П5 | Пространственное разрешение установок для измерения времени жизни неравновесных носителей заряда свч методом. С.П. Кобелева, С. Ю. Юрчук |
П6 | Применение установки ВИК-УЭСА для оценки свойств полупроводниковых и металлических слоев И. М. Анфимов, В. С. Бердников**, М. В. Герасимов, К. Л. Енишерлова*, С. П. Кобелева, Э. М. Темпер*, Т. С. Цаллагова* |
П7 | Анализ эллипсометрических измерений для структур Si-SiO2, облученных ионами Si и Ge (моделирование) В.А. Швец, В.Ю. Прокопьев, С.И. Чикичев |
П8 | Определение азота в тонких пластинах чохральского кремния методом высокочувствительной ИК-фурье спектроскопии В.Д. Ахметов, Х. Рихтер |
П9 | Диагностика монокристаллического кремния по изменению концентрации кислорода после термообработки при температуре 12000C М.С. Журавель, А.Н. Петлицкий, В.И. Плебанович, О.В. Турутина |
П10 | Исследование зависимости параметров тонких термически выращенных пленок оксида кремния от состояния поверхности кремниевых пластин Ю.Б. Васильев, В.И. Плебанович, И.В. Простов, А.В. Турыгин |
П11 | Автоматизированный стенд для неразрушающего контроля параметров гетероэпитаксиальных структур А.А. Величко, А.А. Корнилович, Е.И. Уваров, С.П. Хабаров |
П12 | Восстановление формы изгиба и контроль толщины слоев кремниевых эпитаксиальных систем с помощью рентгеновской интерферометрии А.С. Ильин, А.П. Василенко, Е.М. Труханов, А.А. Федоров, А.В. Колесников |
П13 | Выявление дефектов монокристаллического кремния под действием нестационарных источников излучения В.В. Калинин, А.М. Мясников |
П14 | Методики и средства контроля электрофизических параметров полупроводниковых материалов Егоров Н. М., Казанцев А. В., Казанцев В. В., Левицкий А. А. |
П15 | Автоматизированная система управления испарителями в установке молекулярно-лучевой эпитаксии Н.Н. Косырев, С.Н. Варнаков, С.Г. Овчинников, А.Е. Худяков |
П16 | Исследование электрической проводимости поверхностных фаз кремний-адсорбат на кремнии Цуканов Д.А., Рыжков С.В., Лавринайтис М.В. |
П17 | Экспресс метод измерения пористости полупроводниковых низкоразмерных сред А.Л. Журавлёв, К. В. Лосев, В..В. Симченко, Г. Н. Шелованова |
П18 | Плазменная технология получения кремния для солнечной энергетики Р.Г. Шарафутдинов, В.Г. Щукин, Е.А. Баранов, М.В. Пономарев, В.О. Константинов, О.И. Семенова* |
П19 | Зависимость формы фронта кристаллизации от граничных условий для температуры в плоскодонном варианте метода Бриджмена Бердников В.С., Григорьева А.М., Кудрявцева М.А., Филиппова М.В. |
П20 | Пути снижения поступления металлов-примесей в кремний высокой чистоты, получаемый карботермическим способом Немчинова Н.В.*, Клёц В.Э.*, Бельский С.С.*, Бычинский В.А.** |
П21 | Металлические наногетероструктуры на кремнии Н.И. Плюснин, В.М. Ильященко, С.А. Китань, С.В. Крылов |
П22 | Приёмочные испытания оборудования для получения поликристаллического кремния Б.А. Шагаров, С.А. Муравицкий, В.Н. Ниткин, Н.А. Терёхин, П.И. Панов |
П23 | Установка абсорбционного разделения хлористого водорода и водорода В.А. Лямшев, С.А. Муравицкий, В.Н. Ниткин, Ф.В. Петрусевич, Б.А. Шагаров, В.А. Титов, М.Ф. Резниченко, Л.А. Борисова, В.А. Постников |
П24 | Новая конструкция кремниевых солнечных элементов для работы с концентраторами солнечного излучения В. С. Антощенко, О. А. Лаврищев, А. А. Мигунова |
|